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超景深3D合成测量显微镜
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详情介绍
产品特点
利用景深合成技术,构造三维立体图形。图形可720度拖曳旋转观看。切割线可以任意角度任意位置调整,生成剖面图。可进行3D剖面高度精度测量,精度可达0.1UM
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